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扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscopy)
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主要功能及特色:
纳米量级高分辨率的表面形貌成像观测; 皮牛-微牛量级的微小力的定量测量。
特色为力曲线测量，包括PicForce力曲线模块,提供微悬臂梁探针弹性常数的在位定量标定。
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主要技术指标：
纵向分辨率：0.1nm
横向分辨率：1nm
力分辨率：～30pＮ
PicoForce模块：
z向闭环反馈控制扫描范围：PF:40mm×40mm×20mm J:125mm×125mm×5mm E:10mm×10mm×2.5mm Ａ:0.4mm×0.4mm×0.4mm
样品尺寸：15mm×15mm×5mm
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联系方式
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联系人:
李晖凌
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电子邮件：
lihl@lnm.imech.ac.cn
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联系电话：
（010）62545533-2029
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