主要功能及特色:
原子力显微镜(atomic force microscope,简称AFM)利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针受品原子之间的作用力,从而达到检测的目的,具有原子级的分辨率。 原子力显微镜是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器,研究物质的表面结构及性质,以纳米级分辨率获得表面结构信息。 AFM的关键组成部分是一个头上带有一个用来扫描样品表面的尖细探针的微观悬臂。这种悬臂大小在十至百微米,通常由硅或者氮化硅构成,其上有探针,探针之尖端的曲率半径在纳米量级。当在恒定高度扫描时,探头很有可能撞到表面的造成损伤。所以通常会通过反馈系统来维持。
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