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纳米力学测试系统 Agilent Nano Indenter G200
主要功能及特色:

进行“纳米/显微/宏观”尺度的仪器化压入和划入,可测试小尺寸块体或薄膜的弹性模量和压入硬度,可测试薄膜临界附着力和摩擦系数。具备原位压痕形貌扫描、刚度扫描和快速压入测试等功能。

主要技术指标:

压入载荷量程:XP, 500mNDCM II, 30mN High Load, 10N

压入载荷分辨力:XP, 50nNDCM II, 3nN High Load, 1mN

Z向位移分辨力:XP, 0.01nmDCM II, 0.0002nm High Load, 0.01nm

横向载荷量程:250mN

横向载荷分辨力:2μN

X-Y平面扫描范围:Survey Scanning, 500μm×500μmNanoVision, 100μm×100μm

联系方式
联系人:      冯义辉
电子邮件:   fengyh@lnm.imech.ac.cn
联系电话:   010-82543951