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ABM光刻机
主要功能及特色:
 将晶圆表面薄膜的特定部分除去的工艺。在此之后,晶圆表面会留下带有微图形结构的薄膜。通过光刻工艺过程,最终在晶圆上保留的是特征图形部分。
主要技术指标:
接触式样曝光特征尺寸CD(深紫外DUV):0.35 um
  接触式样曝光特征尺寸CD(近紫外NUV): 0.5 um
  支持接近式曝光,特征尺寸CD:
     --0.8um 硬接触
     --1um 20 um 间距时
     --2um 50um 间距时
  正面对准精度±0.5um
  支持正胶、负胶及Su8胶等的厚胶光刻,特征尺寸:100um-300um
  支持LED优异电流控制技术PSS工艺光刻
  支持真空、接近式、接触式曝光
  支持恒定光强或恒定功率模式
联系方式
联系人:      黄先富
电子邮件:   huangxf@lnm.imech.ac.cn
联系电话:   82543971